победитель конкурса "2011 FEI Owner Image Contest". Иными словами, это лучшая фотография 2011 года, сделанная электронными микроскопом.
microcrack after bending test,
colored by Manuel Paller

Courtesy of Martina Dienstleder

Image Details
Instrument used: Nova DualBeam Family
Horizontal Field Width: 67µm
Voltage: 5kV
Working Distance: 6.0
Detector: ETD — SE
nya
http://www.fei.com/2011-image-contest/

#ntfis

add comment recommend bookmark subscribe